AIMD · MRI-Compat KB

US11406817B2 Low equivalent series resistance RF filter circuit board for an active implantable medical device

摘要

  • 问题:MRI RF 脉冲经天线效应在植入导线感应 RF 电流,在远端电极-组织界面阻性致热。近端一贯用馈通电容把 RF 分流到 AIMD 外壳,但既有电容用高 k(约 2500)barium titanate 介质、极板少(2–4 片),MRI RF 频率处 ESR 高达数欧;分流几安培时电容自身 I²R 自热经外壳把植入囊袋推过 4 °C 限值。
  • 方案:把首要分流电容改成低 k(0<k<1000)介质、多极板(常 >10 对,可达 20–100 对)的低 ESR 器件,在 MRI RF 频率呈更低阻抗、几乎不自热;本件着力于 flat-through 与 X2Y 三端封装、tombstone 竖装与滤波电路板多点无氧化接地,把电容集成到器件侧电路板上、热量经 ferrule 导往外壳。
  • 效果:无本件整件的热学实测;器件级 ESR 由 4.8 Ω(X7R 4 片)降到约 0.3 Ω(NPO >20 片),本件低 k 件扫频 64/128 MHz 处约 200 mΩ、mid-k 达 50–100 mΩ;功耗/温升(16.43 W→0.66 W、>20 °C)为设定 10 V 感应电压的算例;背景引的 30/3 °C 属所引远端带阻件、非本 diverter。
  • 形态:21 claims;三条授权独立权项(claim 1/13/21)统一收窄到 flat-through 电容 + 铂共烧气密过孔,k<1000 在 claim 1/13 为从属(claim 3/17)、在 claim 21 为独立要件;说明书另铺陈 MLCC(210)与 X2Y(210‴)封装、低 k COG/NPO 与 mid-k(约 500–700)介质、tombstone 装法、金 pocket-pad 158 / 金钎焊 154a / oxide-resistant area 248/250 接地、板内接地层 161 + RF grounding strap 264。

原理与方案

标注:引号内英文 = 专利 raw 原文;[推导] = 由专利参数与电路模型推出、非专利原文的结论;[推断] = 按 RF/工艺常识的判断,专利未述;[待确认] = 专利未给、需另行定夺的输入或判断。

失效机理

MRI 体线圈的 RF 脉冲场(raw 记约 21–500 MHz,按 Larmor 关系 42.56×B0 随主磁场取频,1.5 T、3 T 对应 64、128 MHz[1])经天线效应在植入导线沿线感应 RF 电流。专利把致热归为并行两路(“heating in an MRI environment is twofold”):RF 场对导线耦合致沿线局部发热,与远端电极-组织界面的 Ohm 律阻性发热,后者可致组织消融、起搏阈值升高、穿孔乃至神经损伤。感应量随导线长度与植入轨迹变化,“SAR level alone is not a good predictor”;Konings 等实测谐振导丝 30 s 扫描升温达 74 °C[2]

壳内电子学的既有防线,是在导线入壳点(器件侧)并联一只三端馈通电容,对高频呈低阻抗、把 RF 能量分流到气密钛壳这一等效地,拉走的能量同时不再沿导线奔向远端电极。本专利要修的不是这条通路本身,而是它在现有实现里的一处致热失效:分流电容自身过热。既有 AIMD 馈通电容为求体积小、成本低,一贯用高 k 的 barium titanate 介质(k 约 2500),给定容量下只需 2–4 片极板;极板少则高频等效串联电阻(ESR)高。低功率民用干扰(手机、微波炉)下这无关紧要——只有毫瓦级电流流过;但分流 MRI 感应的几安培 RF 电流时,ESR 上的 I²R 损耗把电容烤热:发明人实测同尺寸 X7R 400 pF 4 片电容在 64 MHz 的 ESR 为 4.8 Ω,阻抗 Z≈5.41 Ω,设 10 V 感应电压则分流 1.85 A、功耗 16.43 W、温升超过 20 °C。热量经 ferrule 传到相邻外壳,4 W/kg 扫描时馈通电容正上方外壳升温 4–10 °C(发明人实测),而 FDA/CEM42 一般把囊袋组织温升限在 4 °C,脑深部等敏感组织更严。分流件遂反成致热源。

解决机理

物理原理只有一条:在导线入壳点用一只低阻抗电容把 RF 能量导入 AIMD 外壳这一 energy dissipating surface 耗散,而电容的分流效力与自身发热同由其 ESR 支配,故须把 ESR 压到极低。电容阻抗 Z=√(Xc²+ESR²):ESR 越低,Z 越低,既能从导线拉走越多能量(“maximal energy can be pulled from the lead”)、又在同一分流电流下 I²R 越小。低频端容抗 Xc=1/(ωC) 极大近似开路,起搏与感知信号照常通行;高频端近似短路,把 RF 分流入壳——低通滤波器的常规行为。

降 ESR 的杠杆经由介电常数。低 k Class I 介质的高频 ESR 是介质损耗与极板欧姆损耗之和;介质损耗随频率升高而落,10–20 MHz 以上近零(FIG. 27、28),ESR 遂由全部极板并联的总电阻支配,该总电阻按并联关系随极板数 n 反比下降(FIG. 33)。而容量由 C=k·ε₀·A·(n-1)/d 定(FIG. 22):固定容量、极板交叠面积 A 与介质厚度 d 时,降低 k 就强制抬高 n。低 k 介质因此是把极板数顶高、把 ESR 压低的手段,不是独立原理。专利把设计目标表述为让 ESR-频率的 U 形曲线谷底正落在 MRI RF 频段。

【关键图占位|库主定稿时补】FIG. 28 —(ESR-频率的 U 形合成曲线:Class I 介质的介质损耗在低频极高、到 64/128 MHz 落至近零,极板欧姆损耗全频段近恒定,二者之和的谷底须设计落在 MRI RF 频段)

工程实现

物理杠杆落到一件事:在不让容量超标的前提下把极板数做到最多、ESR 做到最低;本件的着力点是把这只低 ESR 分流电容做成 flat-through / X2Y 三端封装,并集成到器件侧的滤波电路板上。

  • 介质选型:首选 EIA Class I 的 COG(NPO),k 约 60–90;但 k 太低会使极板数太多、电容太厚而塞不进起搏器,故发明人另开发 mid-k 介质(k 约 500–700,来源如 Dimat N4700 k=600、MRA Materials k=485),在体积效率与 ESR 间折中。授权权利要求把上界定在 k<1000,专利强调这与业界 30 年来一贯用 k>1200(常 2000–2200)的做法”completely counterintuitive”,只因 MRI 高功率分流下电容自热才成立。
  • 极板数与 ESR 指标:极板数”generally greater than 10”,可达 20、40、100 以上(mid-k 可少到 5 对);临界指标是 ESR 在 MRI RF 频率”never exceeds 2 ohms”,优选 <0.5 Ω 或 <0.1 Ω。极板可成对加倍(FIG. 35 有源+接地同加倍、FIG. 36 只加倍接地板),后者兼作把热导往 ferrule 的通路,“designed for maximal heat flow”。
  • flat-through 与 X2Y 三端封装(本件独有着力点):flat-through 电容(210″,FIG. 63–65)的电路电流不走贯穿引线,而是穿过电容自身的有源极板(terminal 1→terminal 2),EMI 分量在穿行途中被解耦到接地极板(terminal 3);因电流走极板本身,极板须多片并联、直流电阻低。X2Y 衰减器(210‴,FIG. 66–70)是双极器件,一件同时滤两根引线,兼具 line-to-line 与 line-to-ground 电容。两者都是三端器件、等效串联电感近零,故高频插损曲线比两端 MLCC 更理想——两端 MLCC 在其”self-resonant frequency”以上因感抗抬头而插损回落(FIG. 25、49)。
  • tombstone 装法与无氧化接地:flat-through / X2Y 可 tombstone 竖装于绝缘体上(“tombstone mounting position”),有源与接地极板”perpendicular in relation to an outside surface”于 ferrule(FIG. 65A–R、70C–D)。接地端须接到贵金属而非钛,因钛面氧化物稳定会带来高频接触电阻:做法有直接搭到构成气密封的金钎焊 154a、ferrule 浅槽内的金 pocket-pad 158、oxide-resistant area 248/250(可为 gold pocket、gold pad、metal addition 或 ECA stripe)、或伸入 ferrule 开口的 peninsula 139 / bridge 141 上的氧化物抗性接地引脚 142gnd。
  • 滤波电路板多点接地(本件标题所指):flat-through / X2Y 装在器件侧滤波电路板上,板内(或板面)接地层 161 兼作屏蔽层,经 via / rivet 213 多点接到 ferrule,形成低电感多点接地系统,并把散热面积扩展到 AIMD 外壳;板上宽接地走线 182 与 RF grounding strap 264(宽度”width >4 times its thickness”)进一步压低接地电感,以在 128 MHz 等更高频保持高效分流。

【关键图占位|库主定稿时补】FIG. 64C —(flat-through 电容装在滤波电路板上的剖面:板内接地层 161 经过孔 / rivet 213 多点接到 ferrule,构成低电感多点接地并把热导往外壳)

  • 拆分首要电容:首要”work horse”电容可拆成靠近馈通的低 k FTC(210′,如 800 pF)加板载常规 MLCC(210,如 1000 pF)两处并联凑够功能容量(如 1800 pF),既减薄馈通件便于封装、又把热点摊开;两端 MLCC 的插损在自谐振频率以上回落,由零串感的 FTC 在高频”lifts up”补回(FIG. 39、49A)。作为主分流的 work horse 电容必须有源极板经气密馈通直连导线电极、其前不串电感,否则串联电感的容抗会挡住能量流出(FIG. 37、49 的 phantom 电感 L′)。
  • 铂共烧气密过孔与授权范围:授权独立权项(claim 1/13/21)把导电过孔做成”essentially pure platinum”或铂-陶瓷复合(CRMC)paste 填入绝缘体过孔、green state 共烧气密,替代钎焊导线以降成本、增可靠(FIG. 12、77、79、86–88);此为整件的气密-可靠工程要件,与 RF 分流原理正交。三条独立权项均以 flat-through 电容为要件,k<1000 在 claim 1/13 为从属特征(claim 3/17)、在 claim 21 为独立要件;说明书详述的 MLCC 与 X2Y 封装不落在授权独立权项内。本件是 US11071858B2[3] 的 continuation-in-part、共用说明书;其姊妹件 US8855768B1[4] 从接地电阻/回路电感一侧压低同一分流通路的 ESR。
  • 与带阻协同:低 ESR 分流电容可与并联 L-C bandstop(258)及 L-C trap(262)串接组合(FIG. 38、50),后二者是并联谐振带阻单元[5];分流(divert)与带阻(impede)可在同一低通网络里协同。

物理层与工程层:物理原理只有”低阻抗电容旁路把能量导入 AIMD 外壳耗散、ESR 同时决定分流效力与自热”这一条;低 k / mid-k 介质、极板加倍、flat-through / X2Y / MLCC 各封装、tombstone 装法、金钎焊 / 金 pocket / oxide-resistant area / peninsula-bridge 各接地、电路板多点接地、拆分首要电容、铂共烧气密过孔全属工程实现。flat-through 对 MLCC、三端对两端、外部对内部接地都是同一分流原理的不同封装,不是不同原理。

代价与工程取舍

  • 低 k 的体积代价:同容量下极板数暴增使电容变厚、耗更多贵金属,与 AIMD 尺寸/重量/成本约束冲突;这正是业界一贯避开低 k 的原因。专利以 mid-k、拆分首要电容两手段把代价压回可落地区间,但未给最终器件的体积/成本数。
  • 两端封装的高频局限:两端 MLCC 有等效串联电感、存在自谐振频率,其上插损回落;flat-through / X2Y 三端封装零串感换来更平的高频插损,但需三端布线与电路板集成。
  • 系统边界:本件是 IPG / 近端侧的 divert,远端尖端仍需自带 impede(自谐振或 L-C tank 带阻,如 US9468750B2[6]);带阻把远端做成近开路、能量反射回近端,正需近端一只低阻抗电容把反射能量泄放到外壳。divert 与 impede 是同一热安全系统的两半,任一半单独都不闭合。

效果与证据

全篇无本发明整件(flat-through / 低 k 结构在 MRI 内)的热学实测;证据是器件级电学量、由其推出的功率算例、与所引现有件的 phantom 温升,各层测试条件不同、不可互比,分列如下。

  • ① ESR(器件级实测):同尺寸 400 pF 电容,X7R(k≈2500)4 片极板在 64 MHz 测得 ESR 4.8 Ω,改 NPO(k 60–90)>20 片测得约 0.3 Ω,“sixteen to one reduction”;FIG. 29 为 2000 pF X7R 的实测损耗表(1 kHz DF≈1592 Ω、1 MHz ESR≈2.02 Ω、10–500 MHz ESR 约 0.59→0.44 Ω),FIG. 30 为同容量 COG 在 100 MHz ESR≈0.20 Ω(X7R≈0.45 Ω);FIG. 31 是本件低 k 馈通电容 210 经 Agilent E4991A 的实测扫频,64、128 MHz 处 ESR 约 200 mΩ,mid-k 曲线(k≈500–700)10–100 MHz 达 50–100 mΩ。此层度量的是电容 ESR,非温度。

【关键图占位|库主定稿时补】FIG. 31 —(本件低 k 馈通电容 210 的 ESR-频率实测扫频,Agilent E4991A:低频约 6 Ω,到 21 MHz 以上因介质损耗趋零而压平,64/128 MHz 处约 200 mΩ;mid-k 曲线 137 在 10–100 MHz 达 50–100 mΩ)

  • ② 功耗与温升(算例,非实测):设 64 MHz 感应 10 V,X7R(Z=5.41 Ω)分流 1.85 A、功耗 16.43 W、温升超过 20 °C;NPO(Z=2.51 Ω)因导线特性阻抗上压降使端电压落到 3.71 V、分流 1.48 A、功耗 0.66 W。系基于等效电路的推导示例,非本件实测。专利另处给 4 W/kg 扫描下 AIMD 输入感应 16–20 V、diverter 承受 0.5–4 A(乃至 6 A)的量级。
  • ③ 外壳温升(发明人实测,条件未详):4 W/kg 扫描时馈通电容正上方外壳升温 4–10 °C;未给体模规格、SAR 以外的序列参数、样本量或电容型号(k 值),不能归因到某一 ESR 档。
  • ④ phantom 温升(实测,属远端带阻件、非本 diverter):凝胶体模内,无带阻对照导线尖端升温 30 °C,加 bandstop 带阻降到 3 °C;断开起搏器、近端套硅胶帽后同一带阻导线回升到 11 °C(Luxtron 探头)。此实验验证的是远端带阻滤波器[7]加外壳分流通路,佐证”the housing of the AIMD acts as part of the system”,非本低 ESR 电容的性能。

严谨性缺口:

  • 本件无热学验证:低 ESR flat-through / 低 k 电容降低外壳/囊袋温升,是经”ESR↓→自热↓、分流↑“的算例推断的必要条件,未闭合到本结构的温度实测;FIG. 31 度量的是 ESR(器件电学量),非某一整装 AIMD 在 MRI 内的温升。
  • 授权范围窄于说明书主线:三条独立权项统一以 flat-through 电容 + 铂共烧气密过孔为要件,k<1000 在 claim 1/13 仅为从属;说明书倾力铺陈的低 k / 低 ESR 通用原理、以及 MLCC 与 X2Y 封装,并不都落在授权独立权项内。标题与摘要标举的低 k / 低 ESR 广义原理,比实际授权的结构要宽。
  • 温升数据非本件:④ 的 30/3/11 °C 属远端带阻件、且用现有较高 ESR 馈通电容;该 phantom 缺”低 ESR flat-through diverter”格,不能把降温在 impede 与 divert、高 ESR 与低 ESR 之间定量分解。③ 的 4–10 °C 是现有件的问题量级,电容 k 值未标,未做低 ESR 件的对照温升。
  • ESR 指标为设计声明:权利要求与实施例的 ESR 数(<2 Ω、<0.5 Ω、<0.1 Ω)是设计目标/范围声明,mid-k 的 50–100 mΩ 是器件级测量,均未系到某一具体整装样品在 MRI 内的实测。

关联

  1. larmor-frequency——MRI RF 频率由 Larmor 关系 42.56×B0 随主磁场定(概念卡)。
  2. Konings M.K., Bartels L.W., Smits H.F., Bakker C.J. Heating around intravascular guidewires by resonating RF waves. Journal of Magnetic Resonance Imaging 12(1):79–85, 2000. DOI: 10.1002/1522-2586(200007)12:1<79::AID-JMRI9>3.0.CO;2-T. https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/10931567/
  3. US11071858B2_Greatbatch——本件所继承的母件(本件为其 continuation-in-part),同族共用说明书,其授权独立权项以铂直接气密封于绝缘体过孔为要件。
  4. US8855768B1_Greatbatch——同族 low-ESR diverter 电容,从接地电阻/回路电感一侧压低同一分流通路的 ESR。
  5. parallel-lc-resonance——并联 LC 谐振/带阻的通用原理(概念卡)。
  6. US9468750B2_Greatbatch——远端多层同向螺旋自谐振带阻(impede 侧),明言带阻须配近端 diversion 耗散,与本卡 divert 侧互补。
  7. US7363090B2_Greatbatch——L-C tank 带阻(bandstop)滤波器,phantom 实验所用的远端带阻件。